德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000

 海德漢公司的光學掃描光柵尺或編碼器的 測量基準都是周期刻線－光柵。 這些光柵刻在玻璃或鋼材基體上。大長度 測量用的光柵尺帶的基體為鋼帶。 海德漢公司用特別開發的光刻工藝制造 精密光柵。 • AURODUR：在鍍金鋼帶上蝕刻線條， 典型柵距40 µm • METALLUR：抗污染的鍍金層金屬線， 典型柵距20 µm • DIADUR：玻璃基體的超硬鉻線（典型柵 距20 µm）或玻璃基體的三維鉻線格柵 （典型柵距8 µm） • SUPRADUR相位光柵：光學三維平面格 柵線條；*抗污能力；

典型柵距不超 過8 µm • OPTODUR相位光柵：光學三維平面格 柵線條，超高反光性能，典型柵距不超 過2 µm 這種方法除了能刻制柵距非常小的光柵 外，而且刻制的光柵線條邊緣清晰、均 勻。再加上光電掃描法，這些邊緣清晰 的刻線是輸出高質量信號的關鍵。 母版光柵采用海德漢公司定制的精密 刻線機制造。

 測量法是指編碼器通電時就立即提供 位置值并隨時供后續信號處理電子電路讀 取。無需移動軸執行參考點回零操作。 位置信息來自圓光柵碼盤，它由一系 列碼組成。編碼結構在每轉中都一。 獨立的增量刻軌用單場掃描原理讀取和轉 換成位置值。

增量測量法的光柵由周期性刻線組成。位 置信息通過計算自某點開始的增量數（測 量步距數）獲得。由于必須用參考點 確定位置值，因此在光柵尺或光柵尺帶上 還刻有一個帶參考點的軌道。參考點確定 的光柵尺位置值可以到一個測量 步距。 因此，必須通過掃描參考點建立基準 點或確定上次選擇的原點。 有時，這需要旋轉近360°。為加快和簡化 “參考點回零”操作，許多海德漢光柵尺 刻有距離編碼參考點，這些參考點彼此相 距數學算法確定的距離。移過兩個相鄰參 考點后（一般只需數度）（見表中“名義 增量值 I”），后續電子電路就能找到絕 對參考點。 凡是距離編碼參考點編碼器在型號后均 帶有字母“C”（例如RON 786C）。

 其中： Þ1 = 一個移過的參考點相對零點位置 的角度位置，單位度 abs = 值 sgn = 代數符號（“+1”或“–1”） MRR = 移過參考點間的被測距離，單位度 I = 兩個固定參考點間的名義增量值 （見表） GP = 柵距（ 360° ） D = 旋轉方向（+1或–1） 向右轉（向角度編碼器安裝面看 —參見“配合尺寸”）為“+1” 

德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000